HMK-200是(shi)壹款(kuan)利用(yong)空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)分(fen)法(fa)來測量粉體(ti)粒(li)度分布(bu)的實(shi)驗(yan)室用(yong)篩(shai)分(fen)儀器。HMK-200采(cai)用(yong)美國(guo)進口(kou)渦流(liu)發(fa)生(sheng)器，利用(yong)噴嘴將(jiang)吸塵(chen)器(qi)產(chan)生(sheng)的負(fu)壓(ya)轉(zhuan)化(hua)成(cheng)動(dong)能(neng)，驅動(dong)粉(fen)體上升並與(yu)篩蓋(gai)相(xiang)碰撞(zhuang)，去除(chu)聚合(he)顆粒(li)的(de)粉(fen)體(ti)繼(ji)而被負壓(ya)吸向(xiang)標準(zhun)篩。較大(da)顆粒(li)被(bei)留(liu)在(zai)篩(shai)網(wang)上(shang)面(mian)，較小(xiao)顆粒(li)被(bei)吸(xi)入(ru)吸(xi)塵器，從(cong)而實(shi)現對粉體的(de)理(li)想(xiang)篩(shai)分(fen)。

HMK-200空(kong)氣(qi)噴嘴篩(shai)是(shi)壹款(kuan)利用(yong)空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)分(fen)法(fa)來測量粉體(ti)粒(li)度分布(bu)的實(shi)驗(yan)室用(yong)篩(shai)分(fen)儀器。HMK-200采(cai)用(yong)美國(guo)進口(kou)渦流(liu)發(fa)生(sheng)器，利用(yong)噴嘴將(jiang)吸塵(chen)器(qi)產(chan)生(sheng)的負(fu)壓(ya)轉(zhuan)化(hua)成(cheng)動(dong)能(neng)，驅動(dong)粉(fen)體上升並與(yu)篩蓋(gai)相(xiang)碰撞(zhuang)，去除(chu)聚合(he)顆粒(li)的(de)粉(fen)體(ti)繼(ji)而被負壓(ya)吸向(xiang)標準(zhun)篩。較大(da)顆粒(li)被(bei)留(liu)在(zai)篩(shai)網(wang)上(shang)面(mian)，較小(xiao)顆粒(li)被(bei)吸(xi)入(ru)吸(xi)塵器，從(cong)而實(shi)現對粉體的(de)理(li)想(xiang)篩(shai)分(fen)。

空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)alpine是(shi)壹款(kuan)利用(yong)空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)分(fen)法(fa)來測量粉體(ti)粒(li)度分布(bu)的實(shi)驗(yan)室用(yong)篩(shai)分(fen)儀器。HMK-200采(cai)用(yong)美國(guo)進口(kou)渦流(liu)發(fa)生(sheng)器，利用(yong)噴嘴將(jiang)吸塵(chen)器(qi)產(chan)生(sheng)的負(fu)壓(ya)轉(zhuan)化(hua)成(cheng)動(dong)能(neng)，驅動(dong)粉(fen)體上升並與(yu)篩蓋(gai)相(xiang)碰撞(zhuang)，去除(chu)聚合(he)顆粒(li)的(de)粉(fen)體(ti)繼(ji)而被負壓(ya)吸向(xiang)標準(zhun)篩。較大(da)顆粒(li)被(bei)留(liu)在(zai)篩(shai)網(wang)上(shang)面(mian)，較小(xiao)顆粒(li)被(bei)吸(xi)入(ru)吸(xi)塵器，從(cong)而實(shi)現對粉體的(de)理(li)想(xiang)篩(shai)分(fen)。

200LS-N空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)是(shi)壹款(kuan)利用(yong)空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)分(fen)法(fa)來測量粉體(ti)粒(li)度分布(bu)的實(shi)驗(yan)室用(yong)篩(shai)分(fen)儀器。HMK-200采(cai)用(yong)美國(guo)進口(kou)渦流(liu)發(fa)生(sheng)器，利用(yong)噴嘴將(jiang)吸塵(chen)器(qi)產(chan)生(sheng)的負(fu)壓(ya)轉(zhuan)化(hua)成(cheng)動(dong)能(neng)，驅動(dong)粉(fen)體上升並與(yu)篩蓋(gai)相(xiang)碰撞(zhuang)，去除(chu)聚合(he)顆粒(li)的(de)粉(fen)體(ti)繼(ji)而被負壓(ya)吸向(xiang)標準(zhun)篩。較大(da)顆粒(li)被(bei)留(liu)在(zai)篩(shai)網(wang)上(shang)面(mian)，較小(xiao)顆粒(li)被(bei)吸(xi)入(ru)吸(xi)塵器，從(cong)而實(shi)現對粉體的(de)理(li)想(xiang)篩(shai)分(fen)。

HMK-200空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)價(jia)格(ge)是(shi)壹款(kuan)利用(yong)空(kong)氣(qi)噴射(she)篩(shai)分(fen)法(fa)來測量粉體(ti)粒(li)度分布(bu)的實(shi)驗(yan)室用(yong)篩(shai)分(fen)儀器。HMK-200采(cai)用(yong)美國(guo)進口(kou)渦流(liu)發(fa)生(sheng)器，利用(yong)噴嘴將(jiang)吸塵(chen)器(qi)產(chan)生(sheng)的負(fu)壓(ya)轉(zhuan)化(hua)成(cheng)動(dong)能(neng)，驅動(dong)粉(fen)體上升並與(yu)篩蓋(gai)相(xiang)碰撞(zhuang)，去除(chu)聚合(he)顆粒(li)的(de)粉(fen)體(ti)繼(ji)而被負壓(ya)吸向(xiang)標準(zhun)篩。較大(da)顆粒(li)被(bei)留(liu)在(zai)篩(shai)網(wang)上(shang)面(mian)，較小(xiao)顆粒(li)被(bei)吸(xi)入(ru)吸(xi)塵器，從(cong)而實(shi)現對粉體的(de)理(li)想(xiang)篩(shai)分(fen)。